渦流探頭有哪些種類

渦流探頭可根據(jù)測量不同輪廓的工件選擇不同的探頭：

筆式探頭

表面點式探頭

環(huán)形/圈形探頭

螺栓孔探頭

大尺寸旋轉(zhuǎn)掃查器探頭

特種探頭

筆式表面探頭

這些探頭通常用于表面裂紋探測，也稱為高頻渦流(HFEC)探頭。探頭中有一個小線圈，可以做成屏蔽式或非屏蔽式。大多數(shù)探頭為絕對型，雖然也可以將平衡線圈內(nèi)置到探頭本體中，以確保優(yōu)質(zhì)平衡性能，并增加頻率范圍。有許多類型可供選擇，以滿足各種要求；這些探頭分平直型和角度型兩種樣式。探頭還配有可根據(jù)不同形狀進行調(diào)整的柔性軸。

所設(shè)計的筆式探頭可在不同的頻率下工作，主要取決于待測材料。對于鋁，100 kHz常用，并且可以使用高達200 kHz或更高的頻率，具體取決于平衡線圈和所使用的儀器。更高的頻率將提供更好的升空角度，但隨著探頭接近500 kHz，會變得對升空更敏感，并且對原料的穿透力也會下降。因此，一般情況下，最好保持較低的頻率。

在尋找起源于層對側(cè)并且正在發(fā)展但尚未破壞表面的第一層裂紋（如堆焊層蒙皮）時，使用低于100 kHz的筆式探頭已成為常見做法。20 kHz至50 kHz之間的頻率將穿透堆焊層并探測僅貫穿厚度50%的缺陷。一些標(biāo)準(zhǔn)100 kHz探頭可以在50 kHz下工作，前提是我們通過提高增益進行補償；但最好使用專為較低頻率設(shè)計的探頭，即使我們必須接受略大一些的直徑，也必須如此。

對于低電導(dǎo)率原料，如鈦或不銹鋼，需要選擇1 Mhz到2 MHz的頻率，以改善對表面斷裂裂紋的靈敏度和相位角。對于磁性鋼，頻率并非同等關(guān)鍵的因素；盡管為了盡量減少磁導(dǎo)率變化，通常可以在1 MHz或2 MHz下獲得良好的結(jié)果。當(dāng)材料為鍍鎘時，為盡量減少其影響，需要使用更低的頻率；有時25 kHz到50 kHz的頻率最為合適，雖然所需探頭直徑較大。

表面點式探頭

點式探頭也稱為低頻渦流(LFEC)探頭，在低頻下用于探測表面下裂縫和/或腐蝕。它們有100 Hz和更高頻率（以穿透較厚結(jié)構(gòu)）可供選擇，有屏蔽式和非屏蔽式兩種版本。屏蔽式探頭更受歡迎，因為它們將磁場集中在探頭的下方，避免了邊緣和其他結(jié)構(gòu)的干擾；不過，它們對小缺陷更敏感。反射類型也得到廣泛應(yīng)用，因為它們可以為要求更高的應(yīng)用提供更低的漂移和更高的增益。加載了彈簧的探頭在需要時有助于保持恒定的壓力，例如在需要了解電導(dǎo)率差異而進行的抽測中。

環(huán)形/圈形探頭

這些探頭類似于表面點式探頭，不同之處在于中心已擴大（并制成孔）以包含待檢測的緊固件頭/孔的直徑。由于緊固件/孔的交界面有助于提高穿透力，因此環(huán)形探頭對裂紋更為敏感。這在鐵性緊固件上更為明顯，但磁導(dǎo)率變化也會導(dǎo)致問題。內(nèi)徑(ID)是探頭選擇的一個重要方面。您應(yīng)該選擇比緊固件頭略大的ID。外徑(OD)通常不重要，但不應(yīng)與相鄰的緊固件頭重疊。探頭高度不重要；但在檢修受限的情況下，可以使用特殊的低輪廓類型，這些類型探頭的檢測線圈和平衡線圈各段分開，以進一步降低探頭的高度。

螺栓孔探頭

螺栓孔探頭用于在取出緊固件后檢測螺栓孔的內(nèi)壁。這種探頭分為以下兩組：

使用可調(diào)探頭組裝圈手動操作—探頭被分度到合適的深度并手動旋轉(zhuǎn)。手動螺栓孔探頭使用的典型線圈配置是絕對式、橋式和橋式差分式。

旋轉(zhuǎn)掃查器—這些探頭是為配合使用中的各種掃查器而制造，并提供適合覆蓋范圍和高檢測速度。旋轉(zhuǎn)掃查器探頭通常使用反射差分線圈配置，因為差分線圈對交界面不太敏感，并可更好地探測到缺陷。反射模式用于增益、提供更寬的頻率范圍和盡量減少漂移，漂移可能是由于探頭在高RPM下旋轉(zhuǎn)時的生熱引起的。

其他螺栓孔檢測探頭

低頻螺栓孔探頭：用于透過軸襯檢測孔，低頻線圈被納入到了探頭的設(shè)計之中。這些探頭使用類似于表面點式探頭中的線圈，并且由于線圈尺寸較大，通常僅限于檢測較大直徑的螺栓孔。

埋頭孔探頭：這些探頭為適應(yīng)特定的緊固件頭形狀而制造，用于檢測開孔進口。它們可用于手動或旋轉(zhuǎn)掃查器操作，使用與標(biāo)準(zhǔn)螺栓孔檢測中所用相同的線圈輪廓。如果有大量孔需要檢測，旋轉(zhuǎn)掃查器類型可提供更快速的覆蓋。

大尺寸旋轉(zhuǎn)掃查器探頭

多年以來，大尺寸孔一直使用手動螺栓孔探頭進行檢測。原因是現(xiàn)有的探頭設(shè)計過重且不平衡，如果與標(biāo)準(zhǔn)手持式旋轉(zhuǎn)掃查器一起使用，則無法隨意旋轉(zhuǎn)。手動掃查和步進不僅過程緩慢，而且難以保證覆蓋。此外，大螺栓孔往往位于較厚的工件中，這意味著需要進行大量的掃查才能覆蓋整個厚度。

最近設(shè)計的大尺寸探頭旨在盡量減少重量并優(yōu)化機械平衡。這樣一來，功率相對較小的旋轉(zhuǎn)掃查器就可以驅(qū)動它們，而不會出現(xiàn)過多的速度損失和晃動。超過50 mm (2 in.)的直徑已檢測成功?？烧{(diào)直徑探頭類型使用戶能夠?qū)⑻筋^設(shè)置在正確的直徑，以防止摩擦過大并避免失去對小缺陷的靈敏度。

特種探頭

有許多探頭類型是根據(jù)客戶特殊的要求而定制的。請將您的應(yīng)用圖紙或草圖發(fā)送給我們，我們將為適合檢測您工件的特殊渦流探頭報價。

排除渦流探頭故障

遇到難以操作探頭的情況時，建議做一些簡單的檢測：

檢查工作頻率是否在探頭的范圍內(nèi)。如果探頭未充分平衡，則儀器可能已進入“飽和"狀態(tài)。這點很容易驗證。如果升空產(chǎn)生的信號和缺陷（或邊緣）相互疊加，則沒有相位角并且發(fā)生了飽和。頻率可能太高，或者探頭的檢測線圈和平衡線圈的頻率值不一樣。嘗試降低探頭的驅(qū)動電壓。請注意，某些儀器能夠達到非常高的輸出值，這對于某些探頭來說可能過高。

嘗試移動線纜，尤其是它與連接器或探頭主體的連接處，因為這些是薄弱點。如果操作時斷時續(xù)，則需要更換電纜。此外，可能需要清潔連接器觸點。硅噴劑或電氣觸點清洗劑通常會有所幫助。

如果出現(xiàn)死點或信號微弱和/或失真，請檢查濾波器設(shè)置。許多儀器現(xiàn)在提供一系列高通和低通濾波器。這些濾波器都非常有用，但是如果設(shè)置不正確，則會造成各種影響。

高通濾波器(HPF)會始終將點帶到平衡點，并且在高設(shè)置下（如用于旋轉(zhuǎn)掃查器時），它們會使點在平衡點處顯示為靜態(tài)。對于手動操作，請將高通濾波器設(shè)置為關(guān)閉（或0 Hz）。

低通濾波器(LPF)將使顯示與速度相關(guān)。手動檢測的適當(dāng)設(shè)置通常是100 Hz，但如果信號過于嘈雜，則可能需要降低這一設(shè)置。如果是這樣，則需要將掃查速度保持在足夠低的水平，以免降低信號的強度。

檢查探頭的檢測面。檢測面可能會損壞或磨損。注意有無電線裸露或其他損壞。盡可能在探頭表面使用鐵氟龍（Teflon）膠帶。這會減少探頭磨損并防止可能與鐵素體發(fā)生的接觸，這通常會產(chǎn)生噪波。

當(dāng)遇到高信噪比(SNR)（通常在使用旋轉(zhuǎn)掃查器探頭時出現(xiàn)）時，最好插入一小塊海綿或泡沫橡膠，以加強線圈與孔內(nèi)表面的接觸。這種技術(shù)可以大大減少噪波并提高靈敏度。

注釋

并非所有手持式掃查器都具有相同的功率，較大直徑的探頭需要更大的功率，否則檢測結(jié)果將不可靠。如果對您的旋轉(zhuǎn)掃查器有疑問，請給我們打電話，我們會給您提供建議。

在檢測大尺寸孔時，線圈經(jīng)過缺陷時的行進速度更快。這會改變信號的持續(xù)時間，也意味著儀器中的濾波器設(shè)置可能需要重新設(shè)置為更高的值。高通濾波器(HPF)通常會降低緩慢變化變量（如橢圓度[升空變化]）的影響，但不會同樣有效，需要增加具體設(shè)置，例如從100 Hz增加到200 Hz或更高。低通濾波器（LPF）可能會切掉部分缺陷信號。同樣，嘗試增加具體設(shè)置以避免這種情況，例如，從200 Hz增加到500 Hz或更高。帶通濾波器（BP）是兩者的結(jié)合，會出現(xiàn)在一些儀器中。它們也需要重新設(shè)置，增加頻率值。要對濾波器不斷進行調(diào)整，以獲得合適的信噪比。有些儀器的濾波器設(shè)置可能不足，無法充分利用大尺寸探頭。

我們的目標(biāo)是提供信息以幫助用戶為特定檢測選擇合適的渦流探頭，免費為您提供技術(shù)支持，歡迎來到咨詢。